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首頁-企業(yè)新聞-橢圓偏光儀的主要組成部分

橢圓偏光儀的主要組成部分

更新時(shí)間:2024-04-26       點(diǎn)擊次數(shù):154
  橢圓偏光儀是一種用于測(cè)量材料折射率和雙折射性質(zhì)的光學(xué)儀器。它通過觀察經(jīng)過樣品折射后的光線偏振狀態(tài)的變化來測(cè)定材料的光學(xué)性質(zhì)。它主要由以下幾個(gè)部分組成:
 
  一、光源
 
  橢圓偏光儀通常使用鹵素?zé)艋騆ED作為光源,提供穩(wěn)定且連續(xù)的光譜。光源發(fā)出的光通過一系列透鏡和反射鏡,形成平行光束,并照射到樣品上。
 
  二、起偏器
 
  起偏器的作用是將光源發(fā)出的自然光(即包含多種偏振態(tài)的光)轉(zhuǎn)換為單一偏振方向的光。通常,起偏器是一個(gè)含有特定方向排列的晶體,如石英晶體,只允許特定方向的偏振光通過。
 
  三、樣品臺(tái)
 
  樣品臺(tái)是放置待測(cè)樣品的部位,通??梢孕D(zhuǎn),以便于測(cè)量不同角度入射的光的偏振狀態(tài)。樣品臺(tái)一般帶有微調(diào)機(jī)構(gòu),便于準(zhǔn)確對(duì)準(zhǔn)和定位樣品。
 
  四、檢偏器
 
  檢偏器用于檢測(cè)經(jīng)過樣品折射后的偏振光的狀態(tài)。它通常由一個(gè)半透半反的偏振片和一個(gè)觀察屏幕組成。當(dāng)偏振光通過檢偏器時(shí),會(huì)在屏幕上產(chǎn)生特定的干涉圖樣,這些圖樣對(duì)應(yīng)于光的偏振狀態(tài)和相位變化,從中可以推斷出樣品的光學(xué)性質(zhì)。
 
  五、干涉濾光片
 
  在某些高精度的橢圓偏光儀中,會(huì)使用干涉濾光片來進(jìn)一步提高測(cè)量的準(zhǔn)確度。干涉濾光片可以選取特定波長的光通過,從而減少其他波長的光對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。
 
  六、光學(xué)調(diào)整裝置
 
  還包括一套復(fù)雜的光學(xué)調(diào)整裝置,包括透鏡、反射鏡和光路調(diào)整螺絲等,用以確保光束的平行性和光路的準(zhǔn)確性。
 
  七、讀數(shù)系統(tǒng)
 
  現(xiàn)代的儀器往往配備有電子讀數(shù)系統(tǒng),包括光電探測(cè)器和相關(guān)的電子儀器,用于準(zhǔn)確地測(cè)量干涉圖樣的位置和強(qiáng)度,從而得出樣品的折射率和雙折射系數(shù)。
 
  使用時(shí),操作者首先需要將樣品放置于樣品臺(tái)上,并通過起偏器和檢偏器觀察樣品的偏振干涉圖樣。然后,通過旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)和調(diào)整光學(xué)元件,可以觀察到不同角度入射的光的偏振狀態(tài)。通過讀數(shù)系統(tǒng)得到的數(shù)據(jù)顯示,可以得出樣品的光學(xué)性質(zhì)。
 
  橢圓偏光儀在材料科學(xué)、礦物學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,尤其在晶體光學(xué)和非晶態(tài)材料的研究中扮演了重要的角色。通過準(zhǔn)確測(cè)量物質(zhì)的折射率和雙折射性,科研人員和工程師可以深入理解材料的微觀結(jié)構(gòu)和物理性質(zhì)。

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