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光學薄膜測厚儀,IRE-200是一款超高精度的外延層厚度測量設備，利用紅外光譜經(jīng)傅里葉變換進行快速分析，主要應用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各類外延片的外延層厚度測量。

更新日期：2024-07-04

型號：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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