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ME-L 是一款科研級(jí)全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團(tuán)隊(duì)在橢偏技術(shù)多年的研發(fā)投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù)，包括消色差補(bǔ)償器、雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等。 可應(yīng)用于各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學(xué)納米光柵常數(shù)以及一維/二維納米光柵材料結(jié)構(gòu)的表征分析。 全自動(dòng)變角、對(duì)焦技術(shù)，一鍵快速測(cè)量； 向?qū)Ы换ナ饺藱C(jī)界面，便捷的軟件操作體驗(yàn)； 豐富的材料數(shù)據(jù)庫(kù)與算法模型庫(kù)，強(qiáng)大的

教學(xué)橢偏儀,Mapping系列光譜橢偏儀是全自動(dòng)高精度Mapping繪制化測(cè)量光譜橢偏儀，配置全自動(dòng)Mapping運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)，通過(guò)橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測(cè)量，快速實(shí)現(xiàn)薄膜全基片的膜厚及光學(xué)參數(shù)自定義繪制化測(cè)量表征。

橢偏儀廠家的SE-VM光譜橢偏儀是一款高精度快速測(cè)量光譜橢偏儀,可實(shí)現(xiàn)科研/企業(yè)級(jí)高精度快速光譜橢偏測(cè)量，支持多角度、微光斑、可視化調(diào)平系統(tǒng)等高兼容性靈活配置，支持多功能模塊定制化設(shè)計(jì)。

國(guó)產(chǎn)橢偏儀,SE-VE光譜橢偏儀是一款高性?xún)r(jià)比快速測(cè)量光譜橢偏儀,緊湊集成化設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)便，一鍵快速測(cè)量和向?qū)Ы换ナ饺藱C(jī)界面，具有豐富的材料數(shù)據(jù)庫(kù)和算法模型庫(kù)、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析能力。

針對(duì)微區(qū)圖形結(jié)構(gòu)測(cè)量定制的專(zhuān)用型光譜橢偏儀